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制造半導(dǎo)體器件的檢測儀和器具(第90章其他品目未列名的,包括檢測光掩模及光柵用的)  9031410000

申報(bào)實(shí)例匯總

商品編碼 商品名稱
9031410000 高低溫溫度控制測試機(jī)
9031410000 顆粒測試儀(舊)/檢測硅片表面顆粒情況
9031410000 顆粒度測試儀
9031410000 靜電卡盤
9031410000 集成電路測試器,可測得集成電路是否短路或斷路,NIDEC-READ
9031410000 集成電路注入劑量檢測設(shè)備(舊)/監(jiān)控注入機(jī)臺穩(wěn)定性
9031410000 集成電路專用表面缺陷檢測儀（光學(xué)檢測）
9031410000 降塵試驗(yàn)箱
9031410000 陽光模擬器（太陽能組件IV測試）
9031410000 間隙量測設(shè)備
9031410000 錫膏檢測儀
9031410000 錫膏檢查機(jī)（舊）
9031410000 金線拉力測試儀
9031410000 量子效率測試儀(舊)
9031410000 輪廓儀;測試物體表面的輪廓;測試表面顆粒高度及顆粒之間的間距;SENSOFAR-TECH,S.L.
9031410000 超聲波斷層掃描儀
9031410000 超聲波影像檢查儀
9031410000 視覺測試儀
9031410000 表面缺陷檢測設(shè)備
9031410000 薄膜厚度測試系統(tǒng)
9031410000 蒸汽老化機(jī)
9031410000 熒光顯示屏陣列
9031410000 熒光顯示屏柵網(wǎng)
9031410000 芯片檢測機(jī)
9031410000 芯片檢查機(jī)WS896-AA
9031410000 芯片檢查機(jī)FT1000-D
9031410000 芯片分類機(jī)MS109-10-D4
9031410000 芯片分類機(jī)MS109-10-A1
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus-3-A1
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus-20-B2
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus-2-A1
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus-10-D2
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus-1-A1
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus II-A1
9031410000 芯片分類機(jī)MS100Plus II-10-A2
9031410000 芯片分類機(jī)ES201-10-A1
9031410000 芯片分類機(jī)ES101-10-A1
9031410000 自動薄膜應(yīng)力測量儀(舊)/測試晶圓表面薄厚應(yīng)力
9031410000 自動芯片檢驗(yàn)機(jī),HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用機(jī)器內(nèi)置數(shù)字?jǐn)z像機(jī),拍攝得出WAFER表面圖片,用機(jī)內(nèi)電腦與系統(tǒng)預(yù)設(shè)之標(biāo)準(zhǔn)圖片自行分析比對,判斷WAFER上是否有外形缺陷.同時(shí)設(shè)備內(nèi)置光柵尺,利用傳感器讀取光柵尺位置信息,從而得出錫銀球所需量測尺寸.
9031410000 自動晶粒分類挑揀機(jī)(舊)
9031410000 自動晶圓測試機(jī)/Prober
9031410000 自動外觀檢查裝置
9031410000 自動光學(xué)晶圓檢驗(yàn)機(jī);Camtek;IT行業(yè),測量晶圓的劃傷、裂痕等表面狀態(tài)
9031410000 膜厚測量儀S3000SX
9031410000 膜厚測試儀（舊）/測量晶圓表面膜厚
9031410000 膜厚測試儀(舊)/測量晶圓表面膠膜膜厚
9031410000 膜厚測試儀
9031410000 缺陷測試設(shè)備
9031410000 編碼器光柵
9031410000 終端機(jī)卡接口測試儀
9031410000 終點(diǎn)檢測系統(tǒng)/型號:SP2100
9031410000 終點(diǎn)檢測系統(tǒng)
9031410000 紅外回流掃描儀,品牌SONIX,檢查集成電器元器件內(nèi)部是否有分層,功能:非破壞性檢驗(yàn)
9031410000 穩(wěn)定度測試儀(舊)
9031410000 移動終端智能卡接口單線協(xié)議測試儀
9031410000 科磊表面掃描儀(舊)
9031410000 離線EL測試儀
9031410000 硅片顆粒掃描儀(舊)
9031410000 硅片顆粒分析儀(舊)
9031410000 硅片表面缺陷檢查儀(舊)
9031410000 硅片表面缺陷光學(xué)檢查儀(舊)
9031410000 硅片膜厚測試儀(舊)
9031410000 硅片厚度測試儀
9031410000 硅片幾何參數(shù)測試儀
9031410000 硅晶片檢測儀
9031410000 電路板半導(dǎo)體器件光學(xué)檢測儀
9031410000 電子產(chǎn)品用檢查設(shè)備
9031410000 激光型橢偏儀
9031410000 激光器芯片老化測試裝置用測試箱
9031410000 激光器芯片老化測試裝置(八成新)
9031410000 激光器芯片窄脈沖測試儀
9031410000 測試機(jī)(舊),用于測試集成電路,CREDENCE牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:QUARTET ONE,技術(shù)參數(shù):220V等,有測試結(jié)果顯示,顯示集成電路好壞指標(biāo)
9031410000 測試機(jī)(舊),用于測試集成電路,AGILENT牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:E6978B,技術(shù)參數(shù):220V等,有測試結(jié)果顯示,顯示集成電路好壞指標(biāo)
9031410000 測試機(jī)(修理費(fèi))
9031410000 測試儀
9031410000 泵浦激光器老化測試裝置用卡條
9031410000 水平儀
9031410000 模組電致發(fā)光檢查設(shè)備
9031410000 檢測芯片光功率用檢測儀
9031410000 檢測器框架
9031410000 檢測器
9031410000 檢測儀
9031410000 極間距測量裝置
9031410000 晶片角度測量儀,用于半導(dǎo)體薄膜厚度測量系統(tǒng),品牌NANO
9031410000 晶片厚度測試儀（舊）
9031410000 晶格圖像檢測機(jī)
9031410000 晶圓顆粒檢測儀（舊）
9031410000 晶圓表面金屬膜厚度檢測裝置
9031410000 晶圓表面金屬污染檢測儀
9031410000 晶圓表面膜層檢測裝置
9031410000 晶圓表面膜厚檢測裝置
9031410000 晶圓表面膜厚檢測儀（舊，光學(xué)檢測）
9031410000 晶圓表面膜厚和離子濃度檢測裝置
9031410000 晶圓表面缺陷檢測裝置（舊，光學(xué)檢測）
9031410000 晶圓表面缺陷檢測裝置
9031410000 晶圓表面圖形區(qū)對中檢測裝置
9031410000 晶圓缺陷檢測裝置
9031410000 晶圓缺陷檢測機(jī)
9031410000 晶圓縮微檢查顯微鏡（舊）
9031410000 晶圓縮微檢查顯微鏡(舊,2003年產(chǎn))
9031410000 晶圓離子注入監(jiān)視檢測裝置
9031410000 晶圓校準(zhǔn)裝置
9031410000 晶圓截面檢測裝置
9031410000 晶圓外觀目檢挑除機(jī)(舊)
9031410000 晶圓外觀檢測挑除機(jī)(舊)
9031410000 晶圓厚度綜合測試儀
9031410000 晶體阻抗計(jì)
9031410000 晶體測試機(jī)
9031410000 舊芯片翹曲度測試儀/七成新
9031410000 舊芯片微粒測試儀/七成新
9031410000 舊離子測試儀/七成新
9031410000 舊硅片膜厚測試儀/七成新
9031410000 舊硅片濃度測試儀/七成新
9031410000 舊硅片厚膜測試儀/七成新
9031410000 舊校平測試儀/七成新
9031410000 舊微粒測試儀/六成新
9031410000 舊帆宣自動光學(xué)缺陷分類機(jī)
9031410000 舊半導(dǎo)體器件用測試機(jī)修理費(fèi)
9031410000 舊半導(dǎo)體器件用測試機(jī)
9031410000 舊BUMP測試儀/七成新
9031410000 斜角/凸面晶片3-D形狀分析系統(tǒng)
9031410000 接觸式表面平整度檢測裝置
9031410000 探針測試儀(舊)
9031410000 探針臺/無品牌
9031410000 投影量測儀
9031410000 打孔檢查機(jī)/用于檢查線路板打孔
9031410000 快速檢測儀（檢測半導(dǎo)體器件）
9031410000 微顆粒光學(xué)檢測儀
9031410000 平整度測試儀
9031410000 島津紅外半導(dǎo)體檢測儀
9031410000 少子壽命測試儀(舊)
9031410000 套刻精度測試機(jī)
9031410000 套準(zhǔn)量測儀（舊）
9031410000 太陽能組件測試儀BXM-2012SA
9031410000 太陽能組件測試儀
9031410000 太陽能電池顏色分類系統(tǒng)
9031410000 太陽能電池片表面瑕疵檢測儀(舊)
9031410000 太陽能電池片測試儀
9031410000 太陽能電池效能測試儀/舊
9031410000 太陽能電池QE/IPCE測試系統(tǒng)
9031410000 太陽光模擬器
9031410000 多晶硅電池片分色檢驗(yàn)儀
9031410000 多功能晶片檢測系統(tǒng)
9031410000 外觀檢測系統(tǒng)-檢測晶體管外觀
9031410000 外觀檢查機(jī)/用于檢查線路板成品
9031410000 在線光學(xué)檢查儀
9031410000 噪音測試儀
9031410000 可焊性測試機(jī)
9031410000 疊層對準(zhǔn)檢測裝置
9031410000 疊對量測儀（舊，光學(xué)檢測）
9031410000 變焦光學(xué)系統(tǒng)
9031410000 厚度量測儀
9031410000 半自動裸晶測試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體顆粒測試儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體設(shè)備用函數(shù)發(fā)生器
9031410000 半導(dǎo)體膜厚測量儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀(舊)
9031410000 半導(dǎo)體硅片檢查儀
9031410000 半導(dǎo)體用缺陷檢查儀/舊
9031410000 半導(dǎo)體用微波檢測儀
9031410000 半導(dǎo)體測試機(jī)組件
9031410000 半導(dǎo)體測試機(jī)(舊)
9031410000 半導(dǎo)體檢測設(shè)備
9031410000 半導(dǎo)體檢測儀（舊）
9031410000 半導(dǎo)體檢查裝置
9031410000 半導(dǎo)體晶片光學(xué)檢測儀(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢測儀器(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測量機(jī)（舊）
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測量機(jī)(舊)
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測量機(jī) （舊）
9031410000 半導(dǎo)體晶圓檢查測量機(jī) （舊）
9031410000 半導(dǎo)體器件測試機(jī),
9031410000 半導(dǎo)體器件檢測儀
9031410000 半導(dǎo)體器件器具
9031410000 半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體加工測試機(jī)
9031410000 半導(dǎo)體加工測試儀
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測器具
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測儀和器具
9031410000 制造半導(dǎo)體器件的檢測儀
9031410000 全自動高溫晶圓應(yīng)力檢測裝置
9031410000 全自動表貼LED分類系統(tǒng)/SLS200C
9031410000 全自動芯片掃描檢查系統(tǒng)
9031410000 全自動檢測機(jī)
9031410000 全自動晶粒挑揀機(jī)
9031410000 全自動外觀檢查機(jī)
9031410000 全尺寸光伏組件電致發(fā)光成像儀[舊]
9031410000 光致發(fā)光硅片測試儀
9031410000 光致發(fā)光測試儀
9031410000 光罩表面缺陷檢測裝置
9031410000 光罩缺陷檢測機(jī)（舊，光學(xué)檢測）
9031410000 光電開關(guān)用檢測器具
9031410000 光柵尺
9031410000 光柵
9031410000 光掩膜版位置精度測量機(jī)
9031410000 光學(xué)表面形貌測量儀
9031410000 光學(xué)測試治具
9031410000 光學(xué)宏觀缺陷掃描儀主機(jī)F30
9031410000 光學(xué)厚度量測儀
9031410000 亮度測試機(jī)(維修費(fèi))
9031410000 亮度測試機(jī)
9031410000 三維管腳檢測儀(舊)
9031410000 三極管測試機(jī)
9031410000 三光檢查系統(tǒng)
9031410000 VITROX外觀檢測系統(tǒng)VT-LP2000T
9031410000 TOPAS全處理過程分析系統(tǒng)/針對各元器件及發(fā)光二極管
9031410000 PSS測試系統(tǒng)
9031410000 PCB測試設(shè)備
9031410000 LW1000自動耦光系統(tǒng)
9031410000 LED測試機(jī)
9031410000 LED全自動高速測速機(jī)
9031410000 LED全自動高速測試機(jī)/舊
9031410000 LED全自動高速測試機(jī)
9031410000 LED亮度測試機(jī)(維修費(fèi))
9031410000 LD測試裝置
9031410000 KEYENCE晶體管外觀檢測系統(tǒng)
9031410000 DVD光學(xué)頭評價(jià)機(jī)/PULSTEC
9031410000 DVD光學(xué)頭參數(shù)測量調(diào)整儀/PULSTE
9031410000 DVD光學(xué)頭參數(shù)測量調(diào)整儀
9031410000 CCD攝像機(jī)(光學(xué)檢測模組)
9031410000 CCD影像機(jī)（光學(xué)檢測模組）
9031410000 3D光學(xué)輪廓儀
9031410000 2A級太陽光模擬器及I-V測試系統(tǒng)